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测厚仪
厦门普瑞盛电子科技有线公司理美国博曼镀层测厚仪，膜厚仪，磁性材料镍铜镍的镀层测厚 规格指标 1. X射线照射方向： 从下到上 2. X射线激发： 50瓦钨靶微聚焦X射线管， 黄铜管体相比不锈钢管体，具有更好的散热性能，有效延长射线管寿命。 3. 电压0-50KV连续可调（满足不同元素的激发，保证测试性） 4. 探测器类型：的固态半导体SiPIN探测器，分辨率优于190eV；相比PC气态探测器带来更低的噪音，更低的检测下限；受环境影响小，稳定性好；不需二次滤波器，提高测试效率。 5. 滤波器： 一次滤波器，规格0.1mm Al、0.5mm Al、1.0mm Al,每个一次滤波器可独立于准直器自动切换 6. 不低于4096通道的多通道处理器 7. 测量元素范围：从铝（13）到铀（92） 8. 准直器（测量斑点大小）：四个自动切换，圆形0.1、0.2、0.3、0.6mm直径，满足不同样品测试需求。 9. 测试标准： 符合ASTM B568及GB/T16921/ISO3497标准 10. 测量厚度：可无损分析单镀层，合金镀层，双镀层。多可分析5层（4层镀层加基材），成分分析时至少支持同时分析25种元素 11. 可测样品高度： ≤100mm 12. 样品仓内部尺寸： 325mm x 300mm (宽x深)： 13. Z轴控制：Z轴马达驱动自动控制升降。 14. 样品平台： 固定样品平台，样品通过手动自由调节。 15. 焦距及对焦：固定焦距，支持激光自动对焦，。 16. 准确度和重复性：厚度大于0.5um首层准确度≤±5%（测试平均值与标准片值相比），重复性相对标准偏差≤5%（单点重复测量10次） 17. 操作软件： 基于FP（基本参数法）的控制软件 18. 可将波谱文件保存，并在日后进行重新分析、处理和计算 19. 测量数据可通过通讯接口实时输出，方便接入用户单位的实验室管理系统 20. 在软件的状态栏可实时显示X射线管及探测器温度及电压电流等参数，随时监控仪器运行状态 21. 仪器即开即用，无需预热 22. 免费提供多个软件授权，用户可同时在多台电脑（包括笔记本电脑）上安装软件，分别对仪器进行操作和控制 23. 标准片库： 软件中具备标准片库功能，方便保存和管理标准片信息，要求在标准片库里可以记录标准片的序列号、校准日期等信息等。 24. 软件具备连续扫描功能，且可生成镀层厚度3D分布图 25. 软件具备底材修正功能，可支持用户手工输入底材成分，或者在测量样品前自动提示用户对底材进行测量并自动进行底材修正 26. 软件中自带元素周期表，在测量样品的同时，用户可同步进行元素谱线和峰位的判定 27. 软件自带十字线、一次滤波器、准直器、相机、能量校准，等校准功能，可增配多层镍测试应用，用户可方便的进行仪器的日常维护和校准 28. 自动数据处理和分析，软件需具备以下数据分析能力：平均值、大值、小值、极差、标准偏差、相对标准偏差、cp/cpk、cg/cgk 29. 测量结果一键生成测量报告，仪器自动抓取每个测量点的图像并自动导入至测量报告，测量报告的格式模板可根据客户要求自定义 30. 支持测量数据导出至CSV、TXT、PDF等格式文件 31. 可提供包括中、英文在内的多语言软件，软件终生免费升级 32. 即插即用测试头： 核心零件封装于测试头内，测试头通过简单的连接线和仪器壳体进行连接，遇故障发生可方便更换、维修。……
膜厚仪
规格指标 1.X射线照射方向： 从上到下 2.X射线激发： 50瓦钨靶微聚焦X射线管， 黄铜管体相比不锈钢管体，具有更好的散热性能，有效延长射线管寿命。 3.电压0-50KV连续可调（满足不同元素的激发，保证测试精准性） 4.探测器类型：先进的固态半导体SiPIN探测器，分辨率优于190eV；相比PC气态探测器带来更低的噪音，更低的检测下限；受环境影响小，稳定性好；不需二次滤波器，提高测试效率。 5.滤波器： 一次滤波器，规格0.1mm Al、0.5mm Al、1.0mm Al,每个一次滤波器可独立于准直器自动切换 6.不低于4096通道的多通道处理器 7.测量元素范围：从铝（13）到铀（92） 8.准直器（测量斑点大小）:四个自动切换，圆形0.1、0.2、0.3、0.6mm直径 ，满足不同样品测试需求。 9.测试标准： 符合ASTM B568及GB/T16921/ISO3497标准 10.测量厚度：可无损分析单镀层，合金镀层，双镀层。最多可分析5层（4层镀层加基材），成分分析时至少支持同时分析25种元素 11.可测样品高度： ≤140mm 12.样品仓内部尺寸： 305mm x 330mm (宽x深)： 13.Z轴控制：Z轴马达驱动自动控制升降，行程140mm，配有Z轴防撞机构 14.样品平台： 固定样品平台，样品通过手动自由调节。 15.焦距及对焦：固定焦距，0至2.5英寸可选，激光自动对焦。 16.准确度和重复性：厚度大于0.5um首层准确度≤±5%（测试平均值与标准片值相比），重复性相对标准偏差≤5%（单点重复测量10次） 17.操作软件： 基于FP（基本参数法）的控制软件 18.可将波谱文件保存，并在日后进行重新分析、处理和计算 19.测量数据可通过通讯接口实时输出，方便接入用户单位的实验室管理系统 在软件的状态栏可实时显示X射线管及探测器温度及电压电流等参数，……
镀层测量仪
镀层测量仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器，测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，是表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。 美国博曼XRF镀层测厚仪专注于芯片、半导体、连接器等电子行业，在测量薄金，钯等金属镀层具有明显优势。……
试验箱
主要用途 · 各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐热、耐湿、耐压力试验及品管工程的可靠性测试、适应性试验。特别适用于光纤、LCD、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐压力、耐潮湿寿命试验。高压、高温、高湿环境下多种涂镀层的结合力性能测试。 特别*款1：高温加速寿命试验箱HAST EHS-211（M） （出品：日本爱斯佩克ESPEC原装新品） 内尺寸：W255×H255×L426mm 外尺寸：W640×H1453×D1000mm 温度范围：+105℃～+142℃ 湿度范围：75%RH～*RH 压力范围：0.02～0.196MPa（相对压力） 试验模式：干湿球温度控制；非饱和加压蒸汽；湿润饱和控制 容 积：18L 产地：日本 设备*确保为原装新品，包含设备本身价格，报关费，运输费，17%增值税费用，安装调试费用。 特别*2：高度加速寿命试验箱HAST EHS-211MD （出品：日本爱斯佩克ESPEC原装新品） 内尺寸：W255×H255*2×L426mm 外尺寸：W640×H1453×D1000mm 温度范围：+105℃～+142℃ 湿度范围：75%RH～*RH 压力范围：0.02～0.196MPa（相对压力） 试验模式：干湿球温度控制；非饱和加压蒸汽；湿润饱和控制 容 积：18L 产地：日本 设备*确保为原装新品，包含设备本身价格，报关费，运输费，17%增值税费用，安装调试费用。 特别*3：高度加速寿命试验箱HAST EHS-221（M） （出品：日本爱斯佩克ESPEC原装新品） 内尺寸：W355×H355×L426/ 外尺寸：W740×H1553×D1000 温度范围：+105℃～+142℃ 湿度范围：75%RH～*RH 压力范围：0.02～0.196MPa（相对压力） 试验模式：干湿球温度控制；非饱和加压蒸汽；湿润饱和控制 容 积：约50L 产地：日本 设备*确保为原装新品，包含设备本身价格，报关费，运输费，17%增值税费用，安装调试费用。 特别*4：高度加速寿命试验箱HAST EHS-221MD （出品：日本爱斯佩克ESPEC原装新品） 内尺寸：W355×H355*2×L426/ 外尺寸：W740×H1553×D1000 温度范围：+105℃～+142℃ 湿度范围：75%RH～*RH 压力范围：0.02～0.196MPa（相对压力） 试验模式：干湿球温度控制；非饱和加压蒸汽；湿润饱和控制 容 积：约50L 产地：日本 设备*确保为原装新品，包含设备本身价格，报关费，运输费，17%增值税费用，安装调试费用。 特别*5：高度加速寿命试验箱HAST EHS-411（M） （出品：日本爱斯佩克ESPEC原装新品） 内尺寸：W355×H355×L426/ 外尺寸：W740×H1553×D1000 温度范围：+105℃～+142℃ 湿度范围：75%RH～*RH 压力范围：0.02～0.196MPa 产地：日本 设备*确保为原装新品，包含设备本身价格，报关费，运输费，17%增值税费用，安装调试费用。 特别*6：高度加速寿命试验箱HAST EHS-411MD （出品：日本爱斯佩克ESPEC原装新品） 内尺寸：W355×H355×L426/ 外尺寸：W740×H1553×D1000 温度范围：+105℃～+142℃ 湿度范围：75%RH～*RH 压力范围：0.02～0.196MPa 产地：日本 设备*确保为原装新品，包含设备本身价格，报关费，运输费，17%增值税费用，安装调试费用 高度加速寿命试验箱HAST EHS-211（M） EHS-221（M） EHS-411（M）……
